全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會集成電路分技術(shù)委員會(SAC/TC78/SC2)下屬的集成電路電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)工作組(以下簡稱“工作組")于2022年4月27日、2022年5月10日和2022年5月27日通過線上分別召開了三次工作組標(biāo)準(zhǔn)討論會。
三次會議共討論9項國家標(biāo)準(zhǔn),其中2項為集成電路電磁兼容建模標(biāo)準(zhǔn),另外7項為集成電路電磁兼容測量方法標(biāo)準(zhǔn),具體如下表所示:
集成電路電磁兼容建模標(biāo)準(zhǔn) | 《集成電路電磁兼容建模第2部分:集成電路電磁干擾特性仿真模型傳導(dǎo)發(fā)射建模(ICEM-CE)》(工作組討論稿) |
《集成電路電磁兼容建模 第3部分:集成電路電磁干擾特性仿真模型 輻射發(fā)射建模 (ICEM-RE)》(工作組討論稿) | |
集成電路電磁兼容測量方法標(biāo)準(zhǔn) | 《集成電路 電磁發(fā)射測量 第3部分:表面掃描法》(工作組討論稿) |
《集成電路 電磁發(fā)射測量 第8部分:輻射發(fā)射測量 帶狀線法》(工作組討論稿) | |
《集成電路 電磁抗擾度測量 第3部分:大電流注入(BCI)法》(工作組討論稿) | |
《集成電路 電磁抗擾度測量 第9部分:輻射抗擾度測量 表面掃描法》(工作組討論稿) | |
《集成電路 電磁發(fā)射測量 第5部分:傳導(dǎo)發(fā)射測量 工作臺法拉第籠法》(工作組討論稿) | |
《集成電路 電磁發(fā)射測量 第6部分:傳導(dǎo)發(fā)射測量 磁場探頭法》(工作組討論稿) | |
《集成電路 電磁抗擾度測量 第5部分:工作臺法拉第籠法》(工作組討論稿) |
微信掃一掃